為了使產品能達到預定的可靠性指標，在研制階段需要對樣品進行可靠性試驗，以便找出產品在原材料、結構、工藝、環(huán)境適應性等方面所存在的問題，而加以改進，經過反復試驗與改進，就能不斷地提高產品的各項可靠性指標，達到預定的要求。以下是由三木科技整理的適應不同環(huán)境的可靠性試驗設備：

　　一、高溫烤箱

　　考核在不增強電應力的情況下，高溫對產品的影響。有嚴重缺陷的產品處在非平衡態(tài)，是不穩(wěn)定態(tài)，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴重缺陷產品失效的過程，也是為了促進產品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。

　　試驗標準：GB/T 2423.2-2008

　　二、高低溫試驗箱

　　考核產品承受一定溫度變化速率的能力及對高溫和低溫環(huán)境的承受能力.是針對產品熱機械性能設置的。當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。如漏氣、內引線斷裂、芯片裂紋等。

　　試驗標準：IEC68-2-30 ,GB10592-93 ,GB2423.1-2001,GB2423.2-2001,GB2423.3-93,GB2423.4-93

　　三、熱沖擊試驗箱

　　試驗產品在溫度劇烈變化，就是承受大溫度變化速率的能力。試驗為了找出產品的機械結構缺陷劣化，從而改善，熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的大同小異，不過熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴酷得多。

　　試驗標準：GB/T 2423.59-2008, GB11158, GB10592, GB10589

　　四、高低溫低氣壓試驗箱

　　試驗產品在低氣壓工作環(huán)境的適應能力。當氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強度會減弱;易產生電暈放電、介質損耗等;氣壓減小會導致散熱條件變差，會使元器件溫度加大。這些因素都會使被試驗產品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能，有時會產生損傷。

　　試驗標準：GB/T 2423.21-2008, GJB150.2, GJB360A, GB/T13543

　　五、恒溫恒濕試驗箱

　　以施加加速應力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機理是由化學過程產生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化，使抗介質擊穿的能力變弱。

　　試驗標準：GB/T 2423.3-2016, GB/T 2423.4-2008 GJB 1509, GB/T 2423.34-2016

　　六、鹽霧試驗箱

　　以加速的方法評定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力，是針對熱帶海邊設計的.表面結構狀態(tài)差的元器件在鹽霧、湘濕和炎熱的狀態(tài)下外露部分會產生腐蝕。

　　試驗標準：GB/T 2423.17-2008, GB/T 10587-2006, GB/T 10125-2012